加入日期: | 2015.12.31 |
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招標業主: | 深圳大學 |
地 區: | 深圳市 |
關鍵詞: | 顯微鏡 |
項目名稱 |
原子力顯微鏡 | 是否預選項目 |
否 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
采購人名稱 |
深圳大學 | 采購方式 |
公開招標 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
財政預算限額(元) |
1300000 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
項目背景 |
原子力顯微鏡項目是深圳市財政委員會批復的高端人才科研啟動費項目。
設備主要用途是:材料微觀納米尺度形貌表征,力學性能包括儲能模量、損耗模量、強度等參數表征,電學、磁學以及熱學的物性測量等。必要性方面:由于很多金屬材料和一些微納機械部件特征尺度細化到了納米量級,需要采用納米尺度測量儀器原子力顯微鏡進行測量表征,進而進行機理研究,所以原子力顯微鏡對實驗室開展研究工作有重要作用。 該設備項目預算為130萬。 |
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投標人資質要求 |
1)投標人”系指響應采購文件要求、參加本次招標采購的供應商。 (1) 投標人必須是來自中華人民共和國或是與中華人民共和國有正常貿易往來的國家或地區(以下簡稱“合格來源國/地區”)的法人或其他組織,在法律上和財務上獨立、合法運作并獨立于招標人和招標機構,具有相關經營范圍,有資格和能力提供本采購項目的貨物及服務的制造商或代理商(或經銷商)。須提供營業執照或企業注冊證明復印件(經營范圍必須涵蓋本次招標貨物,加蓋公章)。深圳大學是科教儀器設備減免稅單位,如果是境外供貨,投標人應有境外供貨與外幣結算資格或者是取得了境外供貨貿易商的投標授權。若投標人按照合同提供的貨物不是投標人自己制造的,投標人應得到貨物制造商同意其在本次投標中提供該貨物的正式授權書原件或是合法代理商(若投標人為合法代理商應出具有效代理證明掃描件,制造商除外)。(2)證明投標人已具備履行合同所需的財務、技術和生產能力的文件。(3)投標人須提供設備在國內的銷售業績表、合同復印件或中標通知書復印件(表中應列出設備的出廠日期、用戶名稱、地址、聯系人及聯系方式***
2)參與政府采購項目投標的供應商近三年內無行賄犯罪記錄(由采購中心定期向市人民檢察院申請對政府采購供應商庫中注冊有效的供應商進行集中查詢,投標文件中無需提供證明材料); |
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具體技術要求 |
1.采購貨物配置功能要求,各設備的主要技術參數、性能規格
1.工作模式:
1.1. 輕敲模式帶有Q-control控制技術 (AC mode)
1.2. 接觸模式 (Contact mode)
1.3. 相位成像模式 (Phase imaging)
1.4. 橫向力模式 (Lateral force Microscopy LFM)
1.5. 磁場力顯微鏡 (Magnetic Force Microscopy, MFM)
1.6. 壓電力顯微鏡 (Piezo Response Force Microscopy, PFM mode)
1.7. 雙頻共振追蹤壓電力顯微鏡(DART-PFM)
1.8. 矢量壓電力顯微鏡
1.9. 靜電力顯微鏡 (Electric Force Microscopy, EFM)
1.10. 掃描開爾文顯微鏡(Kelvin probe force microscopy)
1.11. 動態和靜態力曲線測試(Force curve)
1.12. 力陣列測量 (Force Volume Measurement)
1.13. 納米刻蝕 (Nanolithography)
1.14. 納米操縱 (Nanomanipulation)
1.15. 高次諧波成像模式(Dual AC Mode)
1.16. 雙頻共振追蹤 (Dual frequency resonance tracking, DART)
1.17. ★智能探針校準 (GetReal) 不需要探針接觸基底即可直接標定探針微懸臂彈性常數和靈敏度,避免傳統方法為標定靈敏度需測試前要探針與基底先要接觸一次而污染探針。
1.18. 振幅-頻率調制粘彈性成像模式(AM-FM viscoelastic mapping mode)
1.19. 接觸共振模式(contact resonance viscoelastic mapping mode)
2.掃描器
2.1. 掃描器須是X,Y,Z三軸分離的掃描器,X,Y,Z三個驅動軸須是嚴格正交;
2.2. X,Y方向的掃描范圍不低于90μm,Z方向不低于15μm
2.3. ★掃描器閉環噪音:X,Y軸閉環噪音<150pm(Adev,1Hz到1KHz帶寬, Z軸閉環噪音<35pm (Adev,1Hz到1KHz測試帶寬).
2.4. Thermal Tuning功能來標定探針彈性常數:測試頻率不低于7MHz。
2.5. 系統高度噪音(探針接觸樣品表面)<20pm(Adev,1Hz到1KHz帶寬);
2.6. 系統光學噪音(探針未接觸樣品表面)<10pm
3.控制器:
3.1. 至少二個全數字雙頻鎖相放大器。其中2個為工作在20MHz的雙頻率數字積分鎖相放大器;
3.2. 兩個輸出頻率在40MHz的雙頻率頻率合成器。頻率范圍從直流到最大15MHz(9mHz步長)。
3.3. 一個輸出頻率在10MHz的雙頻率頻率合成器. 頻率范圍從直流到最大 2MHz(2mHz步長)。
3.4. 控制精度:控制器應至少有10個的24位和5個16位的數模轉換器DAC,8個16位和6個18位模數轉換器ADC。
3.5. 數字調Q范圍:2KHz-20MHz
3.6. Cross PointTM 信號交換芯片
- 一個32 × 32路數字化信號交換芯片
- 一個16 × 16路數字化信號交換芯片
3.7. 開放的BNC信號接口,用戶可通過開放接口提取或控制系統,可與其他設備信號交換。
4 操作軟件:
4.1 操作軟件永久免費升級。
★4.2 操作軟件源代碼開放,用戶可直接在系統操作軟件上進行二次開發;AFM系統內部的信號圖全部開放,支持用戶對AFM中的信號進行調用操作軟件不受操作系統升級影響。
★5. 振幅-頻率調制粘彈性成像模塊(AM-FM Viscoelastic Mapping Mode):同時對探針施加兩個不同頻率的共振激勵信號,其中一個頻率的信號作為振幅調制的信號,另一個頻率的信號作為頻率調制的信號;該模式能夠在高分辨率形貌成像的同時原位獲得材料表面模量,表面粘附力,形變量,能量損耗以及損耗因子等納米力學性能。模量測試范圍:1MPa-100GPa.
★6. 接觸共振粘彈性成像模塊(Contact Resonance Viscoelastic Mapping Mode):該模式下探針與樣品保持接觸,通過樣品夾持器激勵樣品與探針進行共振,在掃描成像的同時利用共振頻率的變化獲得樣品的彈性模量等力學性能信息。并能夠通過雙頻共振追蹤 (Dual frequency resonance tracking)模式實時的追蹤共振頻率的變化。模量測試范圍1GPa-200GPa。
7. 抬高模式(Lift Mode):在同樣位置第一次掃描用來獲取形貌信息,第二次
掃描用來獲取其它數據(如對于表面磁學,電學特征的表征)。在第二次掃描過程中,針尖抬起并和樣品保持恒定的距離
8.防震隔音系統: 須為原子力顯微鏡系統自身集成的一體式防震隔音系統;其中包括主動式防震隔音臺:主動式防震1.2Hz-200Hz;被動防震大于200Hz
9. 樣品臺:大于50mm樣品臺,高度可達27mm
10.光學系統:視場范圍大于1mm2;CMOS像素點≥500萬;
★11. 樣品拉伸臺:該拉伸臺與原子力顯微鏡聯用以研究樣品在不同應力時的形貌以及納米力學性能等;最大可容納樣品尺寸:41mm(長)×12mm(寬);最大位移:120mm;最大加載力:80N; 力學分辨率:0.8N或者0.2N;位移精度:500μm
備注:技術要求中,帶“★”號標記的為強制要求
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商務需求 |
備注:
1. “(一)免費保修期內售后服務要求”部分,請詳細列明免費保修期內的售后服務要求,內容包括但不限于免費保修期限、售后服務人員配備、技術培訓方案、質量保證、違約承諾、維修響應及故障解決時間、方案等。
2. “(二)免費保修期外售后服務要求”部分,請詳細列明免費保修期外的售后服務要求,內容包括但不限于零配件的優惠率、維修響應及故障解決時間、方案、提供的服務等。
3. “(三)其他商務要求”部分,如有補充,請詳細列明。 |
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技術規格偏離表 |
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商務規格偏離表 |
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評標信息 |
評標信息
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其它 |
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